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    無源器件測試

    方案描述

    光無源器件主要種類:光纖、光連接器、光濾波器、CWDM/DWDM、光耦合器、分光器、隔離器、光開關、環形器、衰減器等等。


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    光無源器件種類多樣,主要測試規格參數比較集中(IL,RL等),如下框圖所示:


    插入損耗(IL)測試

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    回波損耗(RL)測試

    免纏繞式插回損測試儀采用高穩定度光源和高精度光功率計,實現免纏繞的回損測試和高速的插入損耗測試。單次單波長損耗檢測時間小于0.5s,最低能夠實現-75dB的回波損耗探測。RLM包含單模與多模共6個測試波長(多模:850nm、1300nm、單模:1310nm、1490nm、1550nm、1625nm),快速而準確的測量功能,是提高生產效率和品質管控的有效工具。

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                                                                                                            單芯插回損儀


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                                                                                               多芯插回損儀


    PDL測試(可選)

    偏振相關損耗PDL --光源、偏振控制器、OPM(必須對偏振不敏感,使用積分球)

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    其它參數指標:隔離度(Isolation),一致性(Uniformity),方向性(Directivity)等測量方法類似。

    方案優勢

    在生產制造測試領域,測試儀表要求測量速度快,精度高,穩定性好,擴展方便等特點。模塊+平臺化的測量解決方案在儀表拓展性,數據報告保存,可編程性等方面具有很大優勢。

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