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    光芯片測試

    方案描述

    隨著集成技術尤其是硅光集成技術的日益發展,集成無源及有源單元的光子集成芯片成為了下一代的發展方向。光芯片制造流程多、工藝復雜、廢品率高等特點,這使得 On-wafer 測試極為重要。

    維度科技經過多年積累,產品范圍包括:通用光學測試平臺和穩定光源、光開關、光衰減器、光功率計、插回損儀、誤碼儀等光學性能測試模塊,以及光纖端面干涉儀、臺式光纖端面檢測儀、便攜式光纖端面檢測儀、光纖端面清潔機、極性檢測儀、同心度調心儀等,可為光芯片研發與測試中的光學測量提供最先進的檢測和測試解決方案,并能根據客戶的個性化需求提供定制化服務。

    主要優勢

    維度科技創新設計的雙槽位 ALPHA測試平臺和11槽位OMEGA測試平臺,采用核心板+背板+功能測試模塊插槽的硬件架構設計,核心板和功能測試模塊采用標準 USB協議進行通信,可以無縫兼容行業中范圍最廣泛的光學性能測試模塊,快速實現對光學性能的一站式測試平臺,可為光芯片研發測試過程中提供一站式:光源+偏振控制器+多通道光功率計+插回損、偏振損耗的自動測試。

    維度科技自2007年成立以來,秉承“想象、行動、創新、引領”的理念,已發展成為全球領先的光學檢測解決方案供應商,為全球客戶提供一流的光學測試和光纖端面檢測解決方案和設備,經過多年技術耕耘與沉淀,建立了全球營銷和服務支持網絡。維度科技已為全球5000多家客戶提供近百種光電檢測設備。

    主要應用

    ● 無源光芯片的性能測試

    ● 有源光芯片的性能測試

    ● 晶圓測試

    ● AWG測試

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